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使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和*工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领xian电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

参数查看，快速清晰。

推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现无yu伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无yu伦比的测试指导，并让您对最终结果充满信息。

特点

Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件
立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
自动实时参数提取、数据绘图、分析函数

准确的 C-V 表征

使用吉时利新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业领xian的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。

特点

同类产品中首kuan能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz
测量电容、电导和导纳
使用 4200A-CVIV 多路开关最多可测量四个通道

使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量

测量、切换、重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得最准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

特点

不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

“点击"测试定序
“手动"探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试

降低成本并保护您的投资

吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。只需点击一下或一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。

Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

产品描述 Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

参数查看，快速清晰。

准确的 C-V 表征

测量、切换、重复。

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

降低成本并保护您的投资

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Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

产品描述 Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

参数查看，快速清晰。

准确的 C-V 表征

测量、 切换、 重复。

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

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