理学波长色散型X射线荧光光谱仪

　　40多年来，Rigaku Simultix同步波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业(例如钢铁和水泥)过程控制的元素分析工具。近1,000台Simultix波长色散X射线荧光光谱仪已交付给全球客户。随着这些年的技术进步，客户的要求也变得*和多样化。理学波长色散型X射线荧光光谱仪Simultix 15专为满足这些不断变化的需求而开发。它提供了显着改进的性能、功能和可用性。紧凑而智能的Simultix 15是一款功能强大的元素分析工具，在许多工业领域都表现出的性能。

　　波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析物质成分的仪器。它利用X射线与物质相互作用产生的特征性荧光辐射进行分析。以下是该光谱仪的介绍要点：

　　1.基本原理：通过将入射X射线经过晶体衍射分散成不同波长的光线，然后使用探测器测量这些不同波长的荧光辐射强度。每种元素都有其特定的荧光辐射波长，通过测量这些波长可以确定样品中不同元素的存在及其相对含量。

　　2.仪器组成：典型的波长色散X射线荧光光谱仪包括X射线源、样品支架、晶体衍射器、探测器和数据处理系统。X射线源产生高能X射线，样品放置在支架上进行分析，晶体衍射器用于分散入射X射线，而探测器则用于测量荧光辐射强度，并将数据传输给数据处理系统进行分析和解释。

　　3.分析应用：理学波长色散型X射线荧光光谱仪Simultix 15广泛应用于材料科学、地质学、环境监测、金属分析等领域。它可以快速、非破坏性地确定样品中的元素成分，具有高灵敏度和较广的测量范围。

　　4.优势和限制：具有高分辨率、准确性和重现性的优点。然而，它在低浓度元素检测方面可能受到背景干扰的限制，并且对于非常轻的元素(如氢和锂)的分析能力相对较弱。

　　总之，波长色散X射线荧光光谱仪是一种重要的分析工具，可用于快速、准确地确定物质中的元素成分，并在许多科学和工业领域发挥作用。

　　XRF用于快速、精确的元素分析

　　分析几乎任何样品基质中的铍(Be)到铀(U)。自动化过程控制最重要的指标是精密度、准确度和样品吞吐量。具有多达30个(和可选的40个)离散和优化的元素通道和4kW(或可选的3kW)X射线管功率，可提供的分析速度和灵敏度。结合功能强大但易于使用的软件，具有广泛的数据简化功能和维护功能，该仪器是的元素分析计量工具。

　　自动化的XRF元素分析

　　对于高吞吐量应用程序，自动化是一项基本要求。可配备48位自动进样器(ASC)。对于全自动化，可选的样品加载单元提供来自第三方样品制备自动化系统的右侧或左侧传送带进料。

　　通过同步WDXRF进行元素分析

　　特征

　　合成多层，RX-SERIES

　　新型合成多层晶体“RX85"产生的强度比现有的Be-Ka和B-Ka多层晶体高约30%。

　　XRD通道

　　Simultix 15配备XRD通道，可以通过XRF和XRD进行定量分析。

　　双曲面水晶

　　可选的双曲面晶体可以配备到固定通道。与单曲面晶体相比，双曲面晶体的强度增加。

　　改进的软件易于使用

　　Simultix 15软件采用与ZSX软件相同的定量分析流程条，增强了定量条件设置的可操作性。

　　重型和轻型扫描测角仪

　　可选的宽元素范围测角仪支持无标样半定量(FP)，可用于非常规元素的定性或定量测定。

　　微量元素的BG测量

　　固定通道的可选背景测量(BG)，从而改进校准拟合和的精度。

　　自动压力控制(APC)

　　可选的APC系统在光学室中保持恒定的真空度，以显着提高轻元素分析精度。

　　定量散射比法

　　当使用康普顿散射比法进行矿石和精矿分析时，可选的定量散射比法生成用于散射比校准的理论alpha。

　　多达40个固定频道

　　标准的30个固定通道配置，可以选择升级到40个通道。

　　自动化

　　可选的样品加载装置提供来自第三方样品制备自动化系统的传送带进料。